U-型设计的对称化L2-偏差的下界
Lower Bounds for the Symmetric L2-Discrepancy of U-type Designs
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收稿日期: 2021-07-22
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Received: 2021-07-22
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Uniform design is one of the main methods of fractional factorials, which has been widely used in industrial production, systems engineering, pharmacy and other natural sciences. Various discrepancies are used to measure the uniformity of fractional factorials, the key is to find an accurate lower bound of the discrepancy, because it can be used as a benchmark which measures uniformity of design. In this paper, the lower bounds for the symmetric L2-discrepancy on symmetrical U-type designs with four-level and asymmetrical U-type designs with two and three mixed levels and two and four mixed levels are abtained.
Keywords:
本文引用格式
雷轶菊, 欧祖军.
Lei Yiju, Ou Zujun.
1 引言
均匀设计是部分因子设计的主要方法之一, 要求试验点均匀地分布在试验区域里, 从而有可能用较少的试验次数获得期望的结果. 均匀设计也是计算机仿真试验设计的重要方法之一, 同时还是一种稳健试验设计. 均匀设计产生于二十世纪七十年代末, 如今已被广泛地应用于工业生产、系统工程、制药及其他自然科学中. 随着均匀设计的应用不断被推广和深入, 相应有关均匀设计的理论也不断被建立和完善.
在构造均匀设计时, 如何度量其均匀性是一个十分关键的问题. 在Fang和Wang[1]提出均匀设计之初, 均匀性是采用数论(伪蒙特卡罗)方法中常用的
一个下界如果可以达到, 则称之为严格下界; 否则, 称之为保守下界. 寻找一个严格的偏差下界是十分有意义的. 近二十年来, 关于寻求各种偏差下界的讨论不断见诸文献. Fang和Mukerjee[7]首先给出了
本文针对
第2节介绍U-型设计的概念和对称化
2 基本概念和背景
现有研究主要集中在从中心化
一个
对任意一个设计
则映射
3 4水平$ U\! $ -型设计的对称化$ L_2 $ -偏差的下界
对任意的设计
记
对于
引理3.1 对任意的设计
(1)
(2)
(3)
(4)
利用
定理3.1 对任意的设计
其中
根据定理3.1中
定理3.2 对任意的设计
为证明定理3.2, 需要如下引理.
引理3.2 设
下面给出定理3.2的证明.
证 令
对
解上述方程组得
等号成立当且仅当
所以
4 非对称$ U\! $ -型设计的对称化$ L_2 $ -偏差值的下界
下面考虑
设
4.1 2、3混水平设计
若
当
令
对于上述
引理4.1 对任意的设计
(1)
(2)
(3)
(4)
对任意的设计
定理4.1 对任意的设计
其中
由定理4.1中
定理4.2 对任意的设计
其中
当
推论4.1 (1) 对任意的设计
其中
(2) 对任意的设计
其中
4.2 2、4混水平设计
若
当
及
令
对于上述定义
引理4.2 对任意的设计
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
对任意的设计
定理4.3 对任意的设计
其中
基于定理4.3所示
定理4.4 对任意的设计
其中
当
推论4.2 (1) 对任意的设计
其中
其中
(2) 对任意的设计
其中
其中
5 数值例子
记本文中获得的对称化
例1 考虑如下2、3混水平设计
例2 考虑如下的2、4混水平设计
参考文献
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