Acta mathematica scientia,Series A ›› 2002, Vol. 22 ›› Issue (1): 128-134.
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HU Dong-Hong, LI De-Hua, WANG Zu-Xi
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Abstract:
该文根据王元，方开泰［２］的近似偏差（discrepancy）的均匀性准则，定义了理想布点情况下的标准半径，定义了ｍ 维单位子空间Ｃｍ＝［０，１］中两点间的ｆ距离和ｇ距离，由此定义了最大空穴半径和最小空穴半径，提出了均匀性度量的密集性偏差与稀疏性偏差．给出了二维情况 下的计算结果．我们的方法计算量不大，不仅能较好地度量布点的均匀性以及布点在低维投影的均匀性，而且能指导如何调整布点使之尽可能与理想布点接近．
Key words: 均匀性；偏差
CLC Number:
HU Dong-Hong, LI De-Hua, WANG Zu-Xi. 均匀性度量中的密集性偏差与稀疏性偏差[J].Acta mathematica scientia,Series A, 2002, 22(1): 128-134.
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