摘要: 研究了电子束蒸发a-Si1-xNdx的薄膜的ESR参数g因子、线型因子l,峰-峰线宽△Bpp、自旋密度Ns随组分x变化的特性.基于这类薄膜的光吸收和电导特性,应用带Nd背键的悬挂键模型分析讨论了这些变化特性的物理原因.
甘润今, 张津燕, 陈光华. 电子束蒸发a-Si1-xNdx薄膜的ESR研究[J]. 波谱学杂志, 1992, 9(4): 361-367.
Gan Runjing, Zhang Jinyan, Chen Guanghua. ESR STUDIES OF ELECTRON BEAM EVAPORATED a-Si1-xNdx FILMS[J]. Chinese Journal of Magnetic Resonance, 1992, 9(4): 361-367.