磁共振成像谱仪B0信号的高精度发生与测试

doi:10.11938/cjmr20172594

波谱学杂志 ›› 2018, Vol. 35 ›› Issue (2): 170-177.doi: 10.11938/cjmr20172594

磁共振成像谱仪B₀信号的高精度发生与测试

崔妍, 肖亮

北京化工大学信息科学与技术学院, 北京 100029

收稿日期:2017-09-06 出版日期:2018-06-05 发布日期:2017-11-28
通讯作者: 肖亮,Tel:010-64434931,E-mail:xiaoliang@mail.buct.edu.cn E-mail:xiaoliang@mail.buct.edu.cn
基金资助:
国家自然科学基金资助项目（81227003）.

High Accuracy Generation and Test of B₀ Signals on Magnetic Resonance Imaging Spectrometer

CUI Yan, XIAO Liang

College of Information Science and Technology, Beijing University of Chemical Technology, Beijing 100029, China

Received:2017-09-06 Online:2018-06-05 Published:2017-11-28

摘要/Abstract

摘要： 设计了一种基于现场可编程门阵列（FPGA）的磁共振成像（MRI）谱仪B₀信号的高精度发生方法，并对产生的B₀信号经高速采集卡采集之后进行测试和验证.FPGA从外部读取波形数据和参数，分别存储在双端口随机存取存储器（RAM）和参数寄存器中，根据预补偿算法实现B₀信号的发生，并通过对时间参数和幅度参数的控制，产生不同的B₀信号，时间分辨率为1 μs.对谱仪的B₀输出进行采集，再进行最小二乘拟合，以验证B₀信号发生的准确性.经实验证实，该设计可以产生正确、可控的高精度B₀信号.

关键词: 磁共振成像(MRI), 谱仪, B₀信号, 现场可编程门阵列(FPGA), 数据采集卡

Abstract: A field programmable gate array (FPGA)-based method is proposed to generate B₀ signals, with high accuracy, on magnetic resonance imaging (MRI) spectrometers. The FPGA reads the waveform data and external parameters, and stores them in the dual-port random access memory (RAM) and parameter registers, respectively. The B₀ signals are then generated using the pre-emphasis algorithm, and different time or amplitude parameters give different B₀ signals. The B₀ signals are collected by high speed acquisition card, and the least squares fitting algorithm is used to test the accuracy of the B₀ signals generated. The performance of this method was validated by experiments.

Key words: magnetic resonance imaging (MRI), spectrometer, B₀ signals, field programmable gate array (FPGA), data acquisition card

中图分类号:

O482.53

崔妍, 肖亮. 磁共振成像谱仪B₀信号的高精度发生与测试[J]. 波谱学杂志, 2018, 35(2): 170-177.

CUI Yan, XIAO Liang. High Accuracy Generation and Test of B₀ Signals on Magnetic Resonance Imaging Spectrometer[J]. Chinese Journal of Magnetic Resonance, 2018, 35(2): 170-177.

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