摘要:
现有的磁共振电阻抗成像(MREIT)方法只适用于主磁场平行水平面的磁共振系统,本文中提出了一种新的MREIT方法即斜位电流注入磁共振电阻抗成像,同时适用于主磁场垂直于水平面的磁共振系统. 硬件系统以磁共振主控计算机为控制中心,将MRI与EIT有机结合于一体:(1)能够测量注入电流在成像体内部感应磁场的磁感应强度B(x,y,z);(2)向成像体注入电流;(3)满足时序匹配要求;(4)测量边界电压. 文章还展示了利用此装置所得的初步实验结果.
巩玉香;王慧贤;王玉宇;杨文晖. 斜位电流注入磁共振电阻抗成像(MREIT)与硬件设计[J]. 波谱学杂志, 2007, 24(2): 183-189.
GONG Yu-xiang;WANG Hui-xian;WANG Yu-yu;YANG Wen-hui. Magnetic Resonance Electrical Impedance Tomography(MREIT) with Currents Injected from an Oblique Plane: Methods and Hardware Design[J]. Chinese Journal of Magnetic Resonance, 2007, 24(2): 183-189.